Il est possible d'estimerl'épaisseur du film, et de déterminer ses caractéristiques optiques; le seuil d'absorption optique, le coefficient d'adsorption, la largueur de la bande interdite, l'indice de réfractionet la porosité. Tout au long de cette étude, les spectres d'UV-Visible de nos échantillons sont obtenus àl'aide d'un spectrophotomètre à double faisceau de type SHIMADZU (UV 3101 PC), dont leprincipe de fonctionnement est représenté sur le schéma de la figure III. 8. Chapitre III Méthodes expérimentale et techniques de caractérisation Figure III. 8. Schéma de principe d'un spectrophotomètre à double faisceau. 2. Spectrométrie infrarouge à transformée de Fourier (FTIR) La spectrométrie infrarouge à transformée de Fourier (FTIR, FourierTransform Infra-Red) nous a permis d'analyser les propriétés chimiques de nos couches minces. Methodes spectrometriques d`analyse et de caracterisation. Cette techniquespectrométrique est basée sur l'interaction entre un rayonnement infrarouge et le matériau àanalyser. Dans le cas présent, les spectres ont été analysés dans une gamme spectrales'étendant de 2, 5μm (3000 cm-1) à 40μm (400 cm -1).
L'absorption IR est ainsi non seulement dépendante de la concentration, mais égalementdu nombre de molécules à l'état excité.
On utilise un spectromètre IR à transformée de Fourier de type GENESIS II DTGS, piloté par ordinateur pour obtenir des spectres de vibration infrarouge, qui caractérisent les échantillons. Les traitements des spectres se font à l'aide du logiciel EZ-OMNIC. Figure III. 9. Principaux composants d'un spectromètre FTIR en mode transmission. Spectrométries laser en analyse et caractérisation : Dossier complet | Techniques de l’Ingénieur. 2. 3. Spectrométrie Raman La spectroscopie Raman est basée sur l'effet Raman, phénomène de diffusion inélastique de la lumière: lorsqu'une molécule est irradiée par une onde électromagnétique de fréquence υ 0 une partie de la lumière est absorbée et l'autre partie est diffusée soit avec la même fréquence, c'est la diffusion élastique ou Rayleigh, ou avec une fréquence différente c'est la diffusion Raman. 9 Si υ diff. < υ 0 on a la diffusion Raman Stokes, 9 Si υ diff. > υ 0 on a la diffusion Raman anti-Stokes d'intensité beaucoup plus faible. La figure III. 10 illustre de manière schématique les transitions d'énergie à la base des spectroscopies infrarouges et Raman.
Cette lumière passe donc à travers la cuve sans que les photonsagissent sur les électrons de l'élément. Dans de tels spectromètres, tous les éléments sont situéssur la même les spectromètres à fluorescence, les détecteurs mesurent l'intensité I de la lumièrereémise par l'élément, après que celui-ci ait absorbé la lumière I 0 provenant de la source. Dans detels spectromètres, le porte-échantillons n'est plus sur la ligne où se situent les autres élémentsmais se trouve à 90°.
Ce rayonnement obéit aux mêmes lois que les rayons lumineux. Parmi les sources de... par la spectroscopie à absorption infrarouge et expliquée au chapitre 1. 1. 5. E ( e. V). Fréquence...... défini par des lois (de. Stefan, de Wien et de Planck). THÈSE Propagation et émission du rayonnement en milieu diffusant... Propagation et émission du rayonnement en milieu diffusant...... Loi d'échelle pour l'etr: une interprétation en terme de marche au hasard...... régimes de transport seront étudiés plus en détail dans le chapitre II. Leur étude est en effet... L'Équation de Transfert Radiatif (etr) consistant à s'intéresser à la luminance ( flux ra -... CHAPITRE I - iramis - CEA rayonnements gamma) par spectroscopie IRTF et des produits de..... Le premier chapitre s'attache d'une part à fixer le cadre de l'étude et d'autre part, à présenter..... Des programmes de recherche sont menés dans le cadre de la loi Bataille... Propriétés physiques des rayonnements non ionisants 16? Exercice corrigé methodes spectrometriques d'analyse et de caracterisation pdf. 1? 3 Les lois d'émission du rayonnement thermique.
Les tests à l'échelle macroscopique ou microscopique des surfaces et interfaces de composants électroniques, par exemple, permettent de caractériser la composition chimique des surfaces ou interfaces des motifs gravés et celles des supports de semi-conducteurs. Dans la plupart des méthodes de caractérisation utilisant des photons ou des particules comme sonde, on s'efforce de limiter l'excitation à une faible couche de surface, afin que le signal recueilli ne soit pas noyé dans celui provenant des couches sous-jacentes. Les informations obtenues sont déduites en étudiant les particules ou les photons émis en réponse à l'excitation. Methodes spectrometriques d analyse et de caracterisation la. En fait, la profondeur sondée dépend non seulement de la profondeur de pénétration de l'excitation, mais aussi de la possibilité qu'ont les rayonnements ou les particules émises pour ressortir de la couche excitée. Quant à la résolution spatiale de la caractérisation effectuée, elle dépend de la possibilité de focaliser les photons ou les particules incidentes.